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Arid

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Automated nets extraction for digital logic physical failure analysis on IP-secure products 会议论文
会议名称: IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA). 会议地点: Singapore, SINGAPORE. 会议日期: JUL 20-23, 2020
作者:  Ngow, Y. T.;  Goh, S. H.;  Leo, J.;  Low, H. W.;  Kamoji, Rupa
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2021/08/05
Graphic Database System (GDSII)  Open Artwork System Interchange Standard (OASIS)  Scan Diagnosis  User-Defined Online Search (UDOS)  Tool Command Language (TCL)  KDB (Conversion of GDSII information in to Synopsys Avalon Database)  KTMask Command (Program to send commands to the Synopsys Avalon MaskView tool)  
Augmented Reality for Wafer Prober 会议论文
会议名称: 27th European Mask and Lithography Conference. 会议地点: Dresden, GERMANY. 会议日期: JAN 18-19, 2011
作者:  Gilgenkrantz, Pascal
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/09
Wafer  Prober  Augmented  Reality  GDSII  OASIS  Test structures  
Augmented Reality for Wafer Prober 会议论文
会议名称: 27th European Mask and Lithography Conference. 会议地点: Dresden, GERMANY. 会议日期: JAN 18-19, 2011
作者:  Gilgenkrantz, Pascal
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/09
Wafer  Prober  Augmented  Reality  GDSII  OASIS  Test structures  
Compressible placing of dummy elements in nano-scale VLSI layout 会议论文
会议名称: International Conference on Modern Problems of Radio Engineering, Telecommunication and Computer Science. 会议地点: Lviv-Slavsko, UKRAINE. 会议日期: FEB 28-MAR 04, 2006
作者:  Holota, Victor
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/07
nano-scale VLSI  topology  planarization  dummy elements placing  GDSII and OASIS data types  
Compressible area fill synthesis 期刊论文
发表期刊: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. 出版年: 2005, 卷号: 24, 期号: 8, 页码: 1169-1187
作者:  Chen, Y;  Kahng, AB;  Robins, G;  Zelikovsky, A;  Zheng, YH
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/11/28
dummy fill  fill data compression  GDSII AREF  greedy method  OASIS repetitions  VLSI manufacturability  
The unified mask data format based on OASIS for VSB EB writers 会议论文
会议名称: Conference on Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XII. 会议地点: Yokohama, JAPAN. 会议日期: APR 13-15, 2005
作者:  Suzuki, T;  Hirumi, J;  Hojyo, Y;  Kawase, Y;  Sakamoto, S;  Kuriyama, K;  Narukawa, S;  Hoga, M
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/12/07
GDSII  MDP  EB  VSB  OASIS  EDA  RET  
Effectiveness of mask data process using OASIS format 会议论文
会议名称: Conference on Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XII. 会议地点: Yokohama, JAPAN. 会议日期: APR 13-15, 2005
作者:  Tabara, K;  Sakurai, M;  Makino, S;  Itoh, T;  Okada, T
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/12/07
OASIS  data format  GDSII  data process  processing time  handling time  
OASIS - Progress on implementing the new stream format for containing data size explosion 会议论文
会议名称: 20th European Conference on Mask Technology for Integrated Circuits and Microcomponents. 会议地点: Dresden, GERMANY. 会议日期: JAN 12-14, 2004
作者:  Steffen, SA;  Kent, NB;  Buck, P
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/12/07
GDSII stream  OASIS  integrated circuit layout  mask making  photomask  hierarchical processing  
Enhancement of unified mask data formats for EB writers 会议论文
会议名称: 24th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology. 会议地点: Monterey, CA. 会议日期: OCT 14-17, 2004
作者:  Suzuki, T;  Hirumi, J;  Yoshioka, N;  Hojyo, Y;  Kawase, Y;  Sakamoto, S;  Kuriyama, K;  Narukawa, S;  Houga, M
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/07
MDP  data format  GDSII  NEO  MALY  VSB  OASIS  OASIS.NEO  
OASIS - based unification of mask data representation 会议论文
会议名称: Conference on Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XI. 会议地点: Yokohama, JAPAN. 会议日期: APR 14-16, 2004
作者:  Sahouria, E;  Schulze, S
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/07
GDSII stream  OASIS  integrated circuit layout  mask making  photomask  data format  variable shaped beam