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Arid

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Characterization of thin-film multilayers using magnetization curves and modeling of low-angle X-ray diffraction data 科技报告
报告编号: UCRL-ID--114972-3. 出版年: 1994
作者:  Lane, M. [Emory & Henry College, VA (United States)];  Chaiken, A.;  Michel, R.P. [Lawrence Livermore National Lab., CA (United States)]
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