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Single-particle characterization of "Asian Dust" certified reference materials using low-Z particle electron probe X-ray microanalysis 会议论文
会议名称: 34th Colloquium Spectroscopicum Internationale. 会议地点: Antwerp, BELGIUM. 会议日期: SEP 04-09, 2005
作者:  Hwang, HeeJin;  Ro, Chul-Un
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CRMs  Asian Dust  aerosols  single particle analysis  low-Z particle EPMA  electron probe X-ray microanalysis  
Single-particle characterization of "Asian Dust" certified reference materials using low-Z particle electron probe X-ray microanalysis 期刊论文
发表期刊: SPECTROCHIMICA ACTA PART B-ATOMIC SPECTROSCOPY. 出版年: 2006, 卷号: 61, 期号: 4, 页码: 400-406
作者:  Hwang, HeeJin;  Ro, Chul-Un
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/11/28
CRMs  Asian Dust  aerosols  single particle analysis  low-Z particle EPMA  electron probe X-ray microanalysis