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Arid

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Genesis Preliminary Examination - Ellipsometry Overview. 科技报告
报告编号: N20050176020. 出版年: 2005
作者:  Stansbery, E. K;  McNamara, K. M.
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Genesis mission  Ellipsometry  Spacecraft reentry  Parachute descent  Measurement  Thin film  Thickness  Optical properties  Reentry vehicles  Atmospheric entry  Impact