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| 利用扫描探针显微镜对几种低维纳米材料的物性研究 | |
| 蔡金明 | |
| 出版年 | 2009 |
| 学位类型 | 博士 |
| 导师 | 高鸿钧 |
| 学位授予单位 | 中国科学院大学 |
| 中文摘要 | 自从扫描隧道显微镜发明以来，扫描探针显微镜家族日益壮大，功能也更加多元化，现在已经广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域，并取得许多重要成果。本论文首先介绍了扫描探针显微镜家族的发展以及本论文中所涉及的扫描探针显微镜，实验技术，以及分析方法，然后详细介绍了几种低维纳米材料的制备及其物性研究。利用原子力显微镜，研究了DDAN有机薄膜的生长机理。发现在DDAN薄膜的生长过程中，由于电偶极相互作用的影响，存在\ |
| 中文关键词 | 扫描隧道显微镜 ; 原子力显微镜 ; DDAN有机薄膜 ; 单层石墨烯 ; 硼纳米线 ; 近藤效应 |
| 语种 | 中文 |
| 国家 | 中国 |
| 来源学科分类 | 凝聚态物理 |
| 来源机构 | 中国科学院物理研究所 |
| 资源类型 | 学位论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.177/qdio/handle/2XILL650/286730 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蔡金明. 利用扫描探针显微镜对几种低维纳米材料的物性研究[D]. 中国科学院大学,2009. |
| 条目包含的文件 | 条目无相关文件。 | |||||
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