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Arid

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Fuse Modeling for Reliability Study of Power Electronic Circuits 会议论文
会议名称: 32nd IEEE Annual Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC). 会议地点: Tampa, FL. 会议日期: MAY 26-30, 2017
作者:  Bahman, Amir Sajjad;  Iannuzzo, Francesco;  Blaabjerg, Frede
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/09
fatigue  finite element method  fuse  thermal stress  reliability  
Fuse Modeling for Reliability Study of Power Electronic Circuits 会议论文
会议名称: 32nd IEEE Annual Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC). 会议地点: Tampa, FL. 会议日期: MAY 26-30, 2017
作者:  Bahman, Amir Sajjad;  Iannuzzo, Francesco;  Blaabjerg, Frede
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/09
fatigue  finite element method  fuse  thermal stress  reliability