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Arid

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PARTIAL SCAN DESIGN BASED ON SIMULATED ANNEALING FOR HARD-TO-DETECT FAULTS 会议论文
会议名称: 5th International Conference on Microelectronics (ICM 93). 会议地点: DHAHRAN, SAUDI ARABIA. 会议日期: DEC, 1993
作者:  RAVIKUMAR, CP;  RASHEED, H
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PARTIAL SCAN DESIGN BASED ON SIMULATED ANNEALING FOR HARD-TO-DETECT FAULTS 期刊论文
发表期刊: ARABIAN JOURNAL FOR SCIENCE AND ENGINEERING. 出版年: 1994, 卷号: 19, 期号: 4B, 页码: 845-855
作者:  RAVIKUMAR, CP;  RASHEED, H
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